P1000 相位延迟测量仪核心技术获国家技术发明二等奖

我司参与起草国家标准《GB/T 26827-2011 波片相位延迟测量装置的校准方法》

LP1000相位延迟测量仪是镭测可溯源双折射测量主力机型，主要用于精密标定，可精准测量各类光学元件的内应力与相位延迟量。

适配光学波片、光学玻璃、显示屏面板、晶体等透光材料检测，系统配套专业位移平台、温度补偿模块，可定制非标扫描测量方案。

五大核心产品优势

基准可溯源：测量量值溯源至激光波长国家长度基准，数据可计量、可校验，解决传统设备无校准依据痛点；

全域测量范围：覆盖 0°~180°全区间相位延迟，大小应力、高低相位差均可精准检测；

多波长换算适配：633nm 标准测量波长下，可自动换算任意目标波长对应的波片相位差值；

弱透光件兼容：可完成透光性较差光学元件的应力、相位延迟检测，适用材料范围更广；

高精度温度补偿：内置温度传感系统，实时采集样品温度，自动修正温度带来的波片相位误差；

精准硬件参数指标

应用领域

1光学波片精密检测

四分之一波片、半波片、全波片、3/4 波片相位延迟批量标定与出厂质检，科研院所波片研发校准。

2. 光学晶体 / 宝石检测

各类人工晶体、天然宝石内部应力分布、相位延迟定量分析。

配套服务

计量校准：整机年度计量校准服务，匹配国标 GB/T 26827-2011 校验规范；

技术支持：上门安装调试、操作人员培训、售后远程技术指导；

精度升级：可按需定制更高重复精度机型。